TESTING OF MEMORY USING FRANKLIN METHOD

نویسندگان

چکیده

برای دانلود رایگان متن کامل این مقاله و بیش از 32 میلیون مقاله دیگر ابتدا ثبت نام کنید

اگر عضو سایت هستید لطفا وارد حساب کاربری خود شوید

منابع مشابه

buckling of viscoelastic composite plates using the finite strip method

در سال های اخیر، تقاضای استفاده از تئوری خطی ویسکوالاستیسیته بیشتر شده است. با افزایش استفاده از کامپوزیت های پیشرفته در صنایع هوایی و همچنین استفاده روزافزون از مواد پلیمری، اهمیت روش های دقیق طراحی و تحلیل چنین ساختارهایی بیشتر شده است. این مواد جدید از خودشان رفتارهای مکانیکی ارائه می دهند که با تئوری های الاستیسیته و ویسکوزیته، نمی توان آن ها را توصیف کرد. این مواد، خواص ویسکوالاستیک دارند....

chemical recycling of polycarbonate waste using conventional heating and microwave assisted method

پلی کربنات یکی از پلاستیکهای مهمی است که به صورت گسترده در تولید لوحهای فشرده، قطعات رایانه، مواد ساختمانی و غیره مورد استفاده قرار می گیرد. این پلیمر بصورت عمده از تراکم مونومر بیس فنولa (bpa) و کربنیل کلرید یا دی متیل کربنات ها بدست می آید. در سالهای اخیر بازیافت شیمیایی پلی کربنات بیشتر مورد توجه بوده است. بازیافت شیمیایی پلی کربنات برای بدست آوردن مواد اولیه آن با روشهای متفاوتی مانند تجزی...

Testing global memory models using ROC curves.

Global memory models are evaluated by using data from recognition memory experiments. For recognition, each of the models gives a value of familiarity as the output from matching a test item against memory. The experiments provide ROC (receiver operating characteristic) curves that give information about the standard deviations of familiarity values for old and new test items in the models. The...

متن کامل

Sram Memory Testing Technique Using Bisr Scheme

Random Access Memory is major component in present day SOC, by Improving the yield of RAM improves the yield of SOC. So the repairable memories play a vital role in improving the yield of chip. Built-in self-repair (BISR) technique has been widely used to repair embedded random access memories (Ram's). If each repairable RAM uses one self contained BISR circuit (Dedicated BISR scheme), then the...

متن کامل

ذخیره در منابع من


  با ذخیره ی این منبع در منابع من، دسترسی به آن را برای استفاده های بعدی آسان تر کنید

ژورنال

عنوان ژورنال: International Journal of Research in Engineering and Technology

سال: 2012

ISSN: 2321-7308,2319-1163

DOI: 10.15623/ijret.2012.0104010